Agilent /HP8753D 網絡分析儀
詳細說明:
3G|6G射頻矢量網絡分析儀300kHz-3G/6GHz
*頻率范圍：30kHz～3或6GHz
*帶有固態轉換的集成化S參數測試裝置
*達110dB的動態范圍
*快的測量速度和數據傳遞速率
*大屏幕LCD顯示器加上供外部監視器用的VGA輸出
*同時顯示所有4個S參數
*將儀器狀態和數據存儲/調用到內置軟盤驅動器
*可選用的時域測量和掃描諧波測量
*回收業務13713372960雷S
HP8753D射頻網絡分析儀
HP 8753D 射頻網絡分析儀以低廉的價格為實驗室和生產測試提供了優越的RF網絡測量設備。它具有集成
化的S參數測試裝置，延長了校準間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其
它型號的測試設備更低的價格為分析30kHz~6GHz的有源或無源網絡、器件與元件特性提供了完整的解決
途徑。
網絡分析儀有2個獨立的顯示通道，供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便于使用
的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式
觀察測量結果。
*佳的通用性和性能
HP8753D集成化的合成信號源提供達10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和線性、對數、
列表和連續波掃描類型。三個調諧接收機允許在6GHz上(利用選件006頻率擴展)，在105dB的寬動態范圍
或在3GHz上在100dB的寬動態范圍內(標準情況)進行獨立功率測量或同時進行的比值測量。集成化測試裝
置允許在不使用倍頻器的情況下，HP8753D對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量。 為了在非同
軸系統中進行方便而**的測量，特增加了TRL*/LRM*1校準。高穩定度的頻率基準(選件1D5)提高了對高
Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質諧振濾波器的頻率測量精度。
提高效率
HP8753D測試時序功能允許一次來迅速、反復執行復雜的任務。在時序工作方式下，只需從面板測量一次
，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時序經并行端口對外部裝置進行控制。
HP8753D另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內置磁盤驅動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非
易失存儲器、串行和并行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極
限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區
段上的矢量精度。
非線性器件的測試
HP8753D為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能?？梢灾苯踊蛞詃Bc 顯示放大器的掃
描、二次和三次諧波電平。HP8753D按動一個按鈕，即可測量達-40dBc的諧波。功率計校準向對**輸入
或輸出電平敏感的器件提供穩幅的**功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控制，使在
測試系統中任何處的功率都調到具有功率計的精度。分析儀還完成混頻器統調和變頻損耗測量。還能進
行固定IF和掃描IF測量。
時域分析
HP8753D利用選件010，能觀察在時域中的響應。該分析儀對頻域數據的快速傅氏逆變換(FFT)進行計算，
以顯示反射系數或傳輸系數隨時間變化的關系。HP8753D兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應或沖擊
響應或除去一些不希望的響應，如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸
線-反射-匹配校準技術的三取樣器執行方式。
技術指標摘要
HP8753D測試裝置
集成化S參數測試裝置以50Ω(標準)或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件
011提供。
測試端口輸出
頻率特性
HP8753D范圍：
30kHz~3GHz(標準)；3
0kHz~6GHz（選件006）
分辨率：1Hz
精度：±10ppm(在25℃±5℃時)
輸出特性
功率范圍：-85~10dBm
分辨率：0.05dB
電平精度：±1.0dB(相對于0dBm輸出電平)
電平線性：(-15~+5dBm)±0.2dBm(典型值)30kHz~300kHz；
（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm(典型值) 30kHz ~ 300kHz
阻抗：50Ω
二次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 3GHz)
三次諧波：在+10dBm處<-25dBc(16MHz ~ 2GHz)
非諧波寄生信號(典型值)
與混頻器有關的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc
測試端口輸入特性
頻率范圍：
30kHz~3GHz(標準)；
30kHz~6GHz(選件006)
平均噪聲電平
3kHz BW: -82dBm(<3GHz), -77dBm(3 ~ 6GHz)
10Hz BW: -102dBm(<3GHz), -97dBm(3 ~ 6GHz)
*大輸入電平：+10dBm
損壞電平：±26dBm或35Vdc
阻抗：50Ω(用選件075時為75Ω)
諧波：(選件002)
二次諧波：在+8dBm處為<-15dBc
三次諧波：在+8dBm處為<-30dBc
諧波測量精度(在25℃±5℃時)：
16MHz ~ 3GHz: ±1dB
3GHz ~ 6GHz: ±3dB(帶選件006)
諧波測量動態范圍： -40dBc(輸出=-10dBm，輸入<-15dBm)
群延遲特性
范圍：1/(2×*小孔徑)
孔徑(可以選擇的)
*大：頻率間隔的20% *?。?頻率間隔)/(點數-1)
群延遲精度(單位為秒)：±(相位精度)(單位為度)/(360×孔徑(Hz))
結構特性
尺寸：425mm(寬)×222mm(高)×508mm(長)
重量：凈重34公斤
專用測試裝置
HP8753D選件K35雙工器測試適配器能對發射機、接收機和天線端口上的回波損耗和發射機至天線、天線
至發射機、接收機至天線和天線至接收機端口的插入損耗進行一次性連接的誤差修正測量。
對于要求進行發射機至接收機和接收機至發射機測量的應用場合，建議使用選件K39三端口測試裝置。
附件
HP86205A/86207A射頻電橋
HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應用場合中均能提供****的性能。它們特別適
用于**的反射測量和信號穩幅應用。
結構特性
尺寸：93mm(高)×160mm(寬)×23mm(長)
重量：凈重0.57公斤
校準配件
HP8753D的校準配件包含在提高精度過程中使用的一些精密標準件，用以表征HP8753D測量系統的系統誤
差。
HP85032B 50Ω N型校準配件
HP85032B校準配件包括用來校準HP8753C的50ΩN型標準件及其用于測量具有50ΩN型接頭器件的50Ω測試
裝置的精密50ΩN型標準件。還包括對不可插入器件進行**測量的精密相位匹配的7mm轉50ΩN型適配器
。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。
HP85032E 50Ω N型經濟校準配件
HP85032E校準配件包括N型(陽)固定終端負載和一體化的N型(陽)開路器/短路器。這套配件的頻率范圍為
DC~6GHz。
HP85036B 75Ω N型校準配件
HP85036B 75ΩN型校準配件包括用來校準HP8753C的精密75ΩN型標準件及用于測量具有75ΩN型接頭器件
的75Ω測試裝置。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。還包括對不可插入器
件進行**測量的精密相位匹配的適配器。
